經(jīng)濟(jì)型SUNPLUS塑料顆粒黑點(diǎn)儀

顆粒表面的黑點(diǎn)是影響產(chǎn)品質(zhì)量的重要原因。由于顆粒的外形不規(guī)則及透光度不同，顆粒的黑點(diǎn)檢測(cè)一直是技術(shù)難點(diǎn)。Sunplus利用專門設(shè)計(jì)的光學(xué)成像方法，推出批次靜態(tài)檢測(cè)方法，可以有效解決顆粒的黑點(diǎn)檢測(cè)難題。這種靜態(tài)黑點(diǎn)檢測(cè)法的優(yōu)點(diǎn)是批次操作，檢測(cè)準(zhǔn)確， 還可以數(shù)顆粒的個(gè)數(shù)，從而獲得黑點(diǎn)顆粒比，為產(chǎn)品的質(zhì)量評(píng)判提供有價(jià)值的參數(shù)。

SUNPLUS塑料顆粒黑點(diǎn)儀用途Application

按相關(guān)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)分析樹脂顆粒的雜質(zhì)黑點(diǎn)的大小、數(shù)量，以及黑點(diǎn)顆粒占比。

適用于透明、半透明、不透明的膜片、顆粒，如PP、PE、PVC、PPS等等。

也適用薄膜等透明體的黑點(diǎn)和內(nèi)在疵點(diǎn)的檢測(cè)和分析。

技術(shù)指標(biāo)Specifications

1.測(cè)量規(guī)格：0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm，…,等等,按選用的標(biāo)準(zhǔn)，可在軟件界面選定。

2.最小檢測(cè)目標(biāo)： 0.1mm  

3.檢測(cè)精度： 小于0.025mm

4.檢測(cè)面積：不小于200×200mm  

5.器皿大小：120mm×120mm凈面積，或定制

6.放大倍數(shù)：>20倍  

7.光密度:不小于6000流明

8.光源要求: 24V/60W  

9.供電電源：220V,50HZ  

10.外形尺寸：約459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm)

儀器功能特點(diǎn)

1.測(cè)量黑點(diǎn)的大小和數(shù)量,以及黑點(diǎn)顆粒占比數(shù)。                                                

2.可提供黑點(diǎn)，以及膜片質(zhì)地紋路的分布圖譜。

3.黑點(diǎn)或膜片質(zhì)地分布可放大和縮小。

4.被測(cè)目標(biāo)可分類計(jì)數(shù)和統(tǒng)計(jì)。

5.按適用的標(biāo)準(zhǔn)自動(dòng)生成檢測(cè)報(bào)告。

6.報(bào)告和圖譜可打印可儲(chǔ)存。

7.進(jìn)樣方向與屏幕顯示的走向一致，友好的界面視覺感。

8.顆粒以透明器皿為載體，批次檢測(cè)。